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常規儀器

上海習仁儀器網分類下的實驗室常規儀器，是理化分析最常用到的儀器，屬于基礎性的大眾化實驗室儀器包含：電子天平，光度計，移液器，攪拌器，粘度計，混勻器等

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常規儀器

梅特勒ME303E電子精密天平

梅特勒ME303E：最大處理量：320g;可讀性：1mg;線性誤差：2mg;線性誤差（典型）：0.6mg;重復性誤差：1mg;重復性（典型）：0.7mg;最小稱量值（根據 USP）：1.4g ;穩定時間：1.5s;校正：內校;秤盤直徑：120mm;顯示屏：背光 LCD

ME303E ￥1
梅特勒ME403E電子精密天平

梅特勒ME403E：最大處理量：420g；可讀性：1mg；線性誤差：2mg；線性誤差（典型）：0.6mg；重復性誤差：1mg；重復性（典型）：0.7mg；最小稱量值（根據 USP）：1.4g；穩定時間：1.5s；校正：外校；秤盤直徑：120mm；顯示屏：背光 LCD

ME403E ￥1
梅特勒ME1002電子天平（內校）

梅特勒ME1002：最大處理量：1200g;可讀性：0.01g;線性誤差：±0.02g;線性誤差（典型）：6mg;重復性誤差（正常加載）：±0.01g;重復性（正常加載，典型）：7mg;最小稱量值（根據 USP）：21g;穩定時間：1s;校正：內校;秤盤外形尺寸：180x180mm;顯示屏：背光 LCD

ME1002 ￥1
梅特勒ME4001電子天平（內校）

梅特勒ME4001：最大處理量：4200g;可讀性：0.1g;線性誤差：±0.2g;線性誤差（典型）：0.06g;重復性誤差（正常加載）：±0.1g;重復性（正常加載，典型）：0.07g;最小稱量值：0.5g;穩定時間：1s;校正：內校;秤盤外形尺寸：180x180mm;顯示屏：背光 LCD

ME4001 ￥1
梅特勒ME403電子精密天平（內校）

梅特勒ME403：最大處理量：420g；可讀性：1mg；線性誤差：2mg；線性誤差（典型）：0.6mg；重復性誤差：1mg；重復性（典型）：0.7mg；最小稱量值（根據 USP）：1.4g；穩定時間：1.5s；校正：內校；秤盤直徑：120mm；顯示屏：背光 LCD

ME403 ￥1
梅特勒ME802電子天平（內校）

梅特勒ME802：最大處理量：820g；可讀性：0.01g；線性誤差：±0.02g；線性誤差（典型）：6mg；重復性誤差（正常加載）：±0.01g；重復性（正常加載，典型）：7mg；最小稱量值（根據 USP）：14g；穩定時間：1s；校正：內校；秤盤外形尺寸：180x180mm；顯示屏：背光 LCD

ME802 ￥1
梅特勒ME203E電子精密天平

梅特勒ME203E：最大處理量：220g；可讀性：1mg；線性誤差：2mg；線性誤差（典型）：0.6mg；重復性誤差：1mg；重復性（典型）：0.7mg；最小稱量值（根據 USP）：1.4g ；穩定時間：1.5s；校正：外校；秤盤直徑：120mm；顯示屏：背光 LCD

ME203E ￥1
梅特勒ME2002電子天平（內校）

梅特勒ME2002：最大處理量：2200g；可讀性：0.01g；線性誤差：±0.02g；線性誤差（典型）：6mg；重復性誤差（正常加載）：±0.01g；重復性（正常加載，典型）：7mg；最小稱量值（根據 USP）：21g；穩定時間：1s；校正：內校；秤盤外形尺寸：180x180mm；顯示屏：背光 LCD

ME2002 ￥1
梅特勒ME3002電子天平（內校）

梅特勒ME3002：最大處理量：3200g；可讀性：0.01g；線性誤差：±0.02g；線性誤差（典型）：6mg；重復性誤差（正常加載）：±0.01g；重復性（正常加載，典型）：7mg；最小稱量值（根據 USP）：21g；穩定時間：1s；校正：內校；秤盤外形尺寸：180x180mm；顯示屏：背光 LCD

ME3002 ￥1
梅特勒ME4002電子天平

梅特勒ME4002：最大處理量：4200g；可讀性：0.01g；線性誤差：±0.02g；線性誤差（典型）：6mg；重復性誤差（正常加載）：±0.01g；重復性（正常加載，典型）：7mg；最小稱量值（根據 USP）：14g；穩定時間：1s；校正：內校；秤盤外形尺寸：180x180mm；顯示屏：背光 LCD

ME4002 ￥1
梅特勒ME104TE電子分析天平

梅特勒ME104TE：最大處理量：120g；可讀性：0.1mg；線性誤差：20g；線性誤差（典型值）±：0.2mg；線性誤差（典型）：0.06mg；重復性（典型）：0.08mg；重復性（校驗砝碼）：0.1mg(100g)；最小稱量值 (USP)，典型值：0.16g；穩定時間：2s；校正：外部/ FACT；秤盤直徑：90mm；顯示屏：4.5英寸彩色液晶觸摸屏

ME104TE ￥1
梅特勒ME204T電子分析天平

梅特勒ME204T：最大處理量：220g；可讀性：0.1mg；線性誤差：50g；線性誤差（典型值）±：0.2mg；線性誤差（典型）：0.06mg；重復性（典型）：0.08mg；重復性（校驗砝碼）：0.1mg(200g)；最小稱量值 (USP)，典型值：0.16g；穩定時間：2s；校正：內部/ FACT；秤盤直徑：90mm；顯示屏：4.5英寸彩色液晶觸摸屏

ME204T ￥1
梅特勒ME103電子精密天平（內校）

梅特勒ME103：最大處理量：120g；可讀性：1mg；線性誤差：2mg；線性誤差（典型）：0.6mg；重復性誤差：1mg；重復性（典型）：0.7mg；最小稱量值（根據 USP）：1.4g ；穩定時間：1.5s；校正：內校；秤盤直徑：120mm；顯示屏：背光 LCD

ME103 ￥1
梅特勒ME203電子精密天平（內校）

梅特勒ME203：最大處理量：220g；可讀性：1mg；線性誤差：2mg；線性誤差（典型）：0.6mg；重復性誤差：1mg；重復性（典型）：0.7mg；最小稱量值（根據 USP）：1.4g ；穩定時間：1.5s；校正：內校；秤盤直徑：120mm；顯示屏：背光 LCD

ME203 ￥1
梅特勒ME303電子精密天平（內校）

梅特勒ME303：最大處理量：320g;可讀性：1mg;線性誤差：2mg;線性誤差（典型）：0.6mg;重復性誤差：1mg;重復性（典型）：0.7mg;最小稱量值（根據 USP）：1.4g ;穩定時間：1.5s;校正：內校;秤盤直徑：120mm;顯示屏：背光 LCD

ME303 ￥1
梅特勒ME104T電子分析天平

梅特勒ME104T：最大處理量：120g；可讀性：0.1mg；線性誤差：20g；線性誤差（典型值）±：0.2mg；線性誤差（典型）：0.06mg；重復性（典型）：0.08mg；重復性（校驗砝碼）：0.1mg(100g)；最小稱量值 (USP)，典型值：0.16g；穩定時間：2s；校正：內部/ FACT；秤盤直徑：90mm；顯示屏：4.5英寸彩色液晶觸摸屏

ME104T ￥1
梅特勒ME54TE電子分析天平

梅特勒ME54TE：最大處理量：52g；可讀性：0.1mg；線性誤差：10g；線性誤差（典型值）±：0.2mg；線性誤差（典型）：0.06mg；重復性（典型）：0.08mg；重復性（校驗砝碼）：0.1mg(50g)；最小稱量值 (USP)，典型值：0.16g；穩定時間：2s；校正：外校/ FACT；秤盤直徑：90mm；顯示屏：4.5英寸彩色液晶觸摸屏

ME54TE ￥1
梅特勒ME54T電子分析天平

梅特勒ME54T:最大處理量：52g;可讀性：0.1mg;線性誤差：10g;線性誤差（典型值）±：0.2mg;線性誤差（典型）：0.06mg;重復性（典型）：0.08mg;重復性（校驗砝碼）：0.1mg(50g);最小稱量值 (USP)，典型值：0.16g;穩定時間：2s;校正：內部/ FACT;秤盤直徑：90mm;顯示屏：4.5英寸彩色液晶觸摸屏

ME54T ￥1
梅特勒ME204E電子分析天平

梅特勒ME204E：最大處理量：220g；可讀性：0.1mg；線性誤差：0.2mg；線性誤差（典型值）±：0.2mg；線性誤差（典型）：0.06mg；重復性（典型）：0.08mg；重復性（校驗砝碼）：0.1mg(200g)；最小稱量值 (USP)，典型值：0.16g；穩定時間：2s；校正：外校；秤盤直徑：90mm；顯示屏：背光 LCD

ME204E ￥1
梅特勒ME104E電子分析天平

梅特勒ME104E：最大處理量：120g；可讀性：0.1mg；線性誤差：0.2mg；線性誤差（典型值）±：0.2mg；線性誤差（典型）：0.06mg；重復性（典型）：0.08mg；重復性（校驗砝碼）：0.1mg(100g)；最小稱量值 (USP)，典型值：0.16g；穩定時間：2s；校正：外部秤盤直徑：90mm；顯示屏：背光 LCD

ME104E ￥1
梅特勒ME3002E電子天平

梅特勒ME3002E:最大處理量：3200g;可讀性：0.01g;線性誤差：±0.02g;線性誤差（典型）：6mg;重復性誤差（正常加載）：±0.01g;重復性（正常加載，典型）：7mg;最小稱量值（根據 USP）：21g;穩定時間：1s;校正：外校;秤盤外形尺寸：180x180mm;顯示屏：背光 LCD

ME3002E ￥1
梅特勒ME204TE電子分析天平

梅特勒ME204TE：最大處理量：220g；可讀性：0.1mg；線性誤差：50g；線性誤差（典型值）±：0.2mg；線性誤差（典型）：0.06mg；重復性（典型）：0.08mg；重復性（校驗砝碼）：0.1mg(200g)；最小稱量值 (USP)，典型值：0.16g；穩定時間：2s；校正：外部/ FACT；秤盤直徑：90mm；顯示屏：4.5英寸彩色液晶觸摸屏

ME204TE ￥1
梅特勒ME103T電子精密天平

梅特勒ME103T：最大處理量：120g；可讀性：1mg；線性誤差：20g；線性誤差（典型值）±：2mg；線性誤差（典型）：0.6mg；重復性（典型）：0.7mg；重復性（校驗砝碼）：1mg(100g)；最小稱量值 (USP)，典型值：1.4g；穩定時間：1.5s；校正：內部/ FACT；秤盤直徑：120mm；顯示屏：4.5英寸彩色液晶觸摸屏

ME103T ￥1
梅特勒ME104電子分析天平（內校）

梅特勒ME104：最大處理量：120g；可讀性：0.1mg；線性誤差：0.2mg；線性誤差（典型值）±：0.2mg；線性誤差（典型）：0.06mg；重復性（典型）：0.08mg；重復性（校驗砝碼）：0.1mg(100g)；最小稱量值 (USP)，典型值：0.16g；穩定時間：2s；校正：內校；秤盤直徑：90mm；顯示屏：背光 LCD

ME104 ￥1
梅特勒ME155DU微量電子天平

梅特勒ME155DU：最大量程：42g/152g；最小可讀性：0.01mg/0.mg；重復性(極限值)：0.03mg /0.1mg；重復性(典型值)：0.02mg /0.1mg；線性(極限值)：0.15mg /0.2mg；線性(典型值)：0.05mg /0.2mg；穩定時間：8s /4s；秤盤直徑：ø80mm

ME155DU ￥1
梅特勒ME2002E電子天平

梅特勒ME2002E：最大處理量：2200g；可讀性：0.01g；線性誤差：±0.02g；線性誤差（典型）：6mg；重復性誤差（正常加載）：±0.01g；重復性（正常加載，典型）：7mg；最小稱量值（根據 USP）：21g；穩定時間：1s；校正：外校；秤盤外形尺寸：180x180mm；顯示屏：背光 LCD

ME2002E ￥1
梅特勒ME204電子分析天平（內校）

梅特勒ME204：最大處理量：220g；可讀性：0.1mg；線性誤差：0.2mg；線性誤差（典型值）±：0.2mg；線性誤差（典型）：0.06mg；重復性（典型）：0.08mg；重復性（校驗砝碼）：0.1mg(200g)；最小稱量值 (USP)，典型值：0.16g；穩定時間：2s；校正：內校；秤盤直徑：90mm；顯示屏：背光 LCD

ME204 ￥1
梅特勒ME54E電子分析天平

最大稱重：52.0g 可讀性：0.00010g 重復性：0.00010g 秤盤直徑：Φ90.0mm 線性誤差：0.00020g 分辨率：0.00010g 穩定時間：2秒

ME54E ￥1
梅特勒ME54電子分析天平（內校）

梅特勒ME54：最大處理量：52g;可讀性：0.1mg;線性誤差：0.2mg;線性誤差（典型值）±：0.2mg;線性誤差（典型）：0.06mg;重復性（典型）：0.08mg;重復性（校驗砝碼）：0.1mg(50g);最小稱量值 (USP)，典型值：0.16g;穩定時間：2s;校正：外部;秤盤直徑：90mm;顯示屏：背光 LCD

ME54 ￥1
梅特勒ME55微量電子天平

梅特勒ME55：最大量程：52g；最小可讀性：0.01mg；重復性(極限值)：0.03mg；重復性(典型值)：0.02mg；線性(極限值)：0.1mg；線性(典型值)：0.05mg；穩定時間：8s；秤盤直徑：ø80 mm

ME55 ￥1